Отрывок: Основной целью данной работы является проведение диагностического контроля с целью получения новых характеристик энергопотребления интегральных схем. Для достижения этой поставленной цели в работе решались следующие задачи: выбор метода регистрации интегрального физического параметра совокупности исследуемых элементов ИС, а также способов и приемов наиболее эффективного получения первичной ди...
Название : | Диагностический контроль интегральных микросхем |
Авторы/Редакторы : | Ефимов А. А. |
Дата публикации : | 2022 |
Библиографическое описание : | Ефимов, А. А. Диагностический контроль интегральных микросхем / А. А. Ефимов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 19-22 апр. 2022 г. / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2022. - С. 98-99. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Diagnosticheskii-kontrol-integralnyh-mikroshem-97433 |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\481344 |
Ключевые слова: | характеристики энергопотребления скрытые дефекты отбраковка изделий механизмы отказов методы диагностики контроль качества интегральные микросхемы дифференциальные спектры вольт-кулонные характеристики вольт-ваттные характеристики виды дефектов |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
978-5-903-943-17-3_2022-98-99.pdf | 177.3 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.