Отрывок: ОБЛ. на рисунке 4б). Увеличение параметров DLOAЭФФ.ОБЛ. и НПУРЭФФ.ОБЛ свидетельствует об ухудшении упорядоченности ТЛИППС. а) б) Рисунок 4. Определение упорядоченности ТЛИППС, без учёта дефектных областей: DLOAЭФФ.ОБЛ. (а) и НПУРЭФФ.ОБЛ. (б)....
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Белоусов Д. А. | ru |
dc.contributor.author | Достовалов А. В. | ru |
dc.contributor.author | Корольков В. П. | ru |
dc.contributor.author | Бронников К. А. | ru |
dc.contributor.author | Микерин С. Л. | ru |
dc.contributor.author | Бабин С. А. | ru |
dc.coverage.spatial | анализ дефектности | ru |
dc.coverage.spatial | лазерно-индуцированные поверхности | ru |
dc.coverage.spatial | пленки гафния | ru |
dc.coverage.spatial | сфокусированные гауссовы пучки | ru |
dc.creator | Белоусов Д. А., Достовалов А. В., Корольков В. П., Бронников К. А., Микерин С. Л., Бабин С. А. | ru |
dc.date.accessioned | 2020-08-10 15:27:42 | - |
dc.date.available | 2020-08-10 15:27:42 | - |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\441559 | ru |
dc.identifier.citation | Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-uporyadochennosti-i-defektnosti-struktur-TLIPPS-sformirovannyh-na-tonkih-plenkah-Hf-astigmaticheskim-gaussovym-puchkom-85172 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек | ru |
dc.source | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника | ru |
dc.title | Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 377 | ru |
dc.citation.spage | 372 | ru |
dc.citation.volume | 1 | ru |
dc.textpart | ОБЛ. на рисунке 4б). Увеличение параметров DLOAЭФФ.ОБЛ. и НПУРЭФФ.ОБЛ свидетельствует об ухудшении упорядоченности ТЛИППС. а) б) Рисунок 4. Определение упорядоченности ТЛИППС, без учёта дефектных областей: DLOAЭФФ.ОБЛ. (а) и НПУРЭФФ.ОБЛ. (б).... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf | 426.11 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.