Отрывок: 4. Схемы включения Для измерения электрических параметров были предложены схемы включения, приведенные на ...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Тюлевин, С.В. | - |
dc.contributor.author | Пиганов, М.Н. | - |
dc.contributor.author | Еранцева, Е.С. | - |
dc.date.accessioned | 2017-05-19 15:26:48 | - |
dc.date.available | 2017-05-19 15:26:48 | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20170519\63900 | ru |
dc.identifier.citation | Тюлевин С.В. Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем / С.В. Тюлевин, М.Н. Пиганов, Е.С. Еранцева // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 1201-1205. | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Metodika-obuchaushego-eksperimenta-bipolyarnyh-mikroshem-63900 | - |
dc.description.abstract | Проведен анализ методик обучающего эксперимента полупроводниковых микросхем для индивидуального прогнозирования показателей их качества. Сделан выбор информативных параметров и средств их контроля. Обоснованы схемы включения микросхем в процессе исследовательских испытаний и режимы их контроля. Выполнен анализ конструктивно-технологических вариантов микросхем. Разработана программа исследовательских испытаний. Приведены результаты обучающего эксперимента для микросхем серии 522. Проведен анализ экспериментальных данных. Рекомендовано использовать результаты обучающего эксперимента для построения математических прогнозных моделей качества микросхем. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | Новая техника | ru |
dc.subject | обучающий эксперимент | ru |
dc.subject | биполярная микросхема | ru |
dc.subject | методика | ru |
dc.subject | исследовательские испытания контроль | ru |
dc.subject | прогнозная модель | ru |
dc.title | Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | 4. Схемы включения Для измерения электрических параметров были предложены схемы включения, приведенные на ... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
paper 212_1201-1205.pdf | Основная статья. Раздел: Математическое моделирование | 478.48 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.