Отрывок: Н. Осипов, Р.Н. Сергеев IV Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2018) 4 2 1 222 2 4 1 ∆− ∆ − += nm nm mn n hh rrrρ (5) Таким образом получена связь между радиус-вектором кривизны, характеризующим изгиб образца, и радиусами эквидистантных полос, а также высотной разностью между экви...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Осипов, М.Н. | - |
dc.contributor.author | Сергеев, Р.Н. | - |
dc.date.accessioned | 2018-04-25 14:20:00 | - |
dc.date.available | 2018-04-25 14:20:00 | - |
dc.date.issued | 2018 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20180420\68356 | ru |
dc.identifier.citation | Осипов М.Н. Определение температурного коэффициента линейного расширения по интерферограмме / М.Н. Осипов, Р.Н. Сергеев // Сборник трудов IV международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2018) - Самара: Новая техника, 2018. - С.1-7 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Opredelenie-temperaturnogo-koefficienta-lineinogo-rasshireniya-po-interferogramme-68356 | - |
dc.description.abstract | В данной работе предлагается теоретическое обоснование простого высокоточного метода определения температурного коэффициента линейного расширения материалов как изотропных, так и анизотропных при обработке интерферограмм, получаемых с помощью голографической или цифровой спекл-интерферометрии. Интерферограммы предлагается регистрировать при термоупругих изгибных деформациях образца, вызванных перепадом температур по его толщине. Предлагаемый метод является бесконтактным и не предъявляет особых требований к поверхности исследуемого материала как в случае классической интерферометрии. Приводится численное моделирование процесса термоупругих деформаций образца, подтверждающее правильность предлагаемого метода. | ru |
dc.description.sponsorship | Работа выполнена при частичной финансовой поддержке грантов РФФИ № 15-08-06330-а и № 16-08-00571-а. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | Новая техника | ru |
dc.subject | processing digital images | ru |
dc.subject | speckle interferograms | ru |
dc.subject | accuracy | ru |
dc.subject | temperature coefficient of linear expansion | ru |
dc.subject | displacement | ru |
dc.title | Определение температурного коэффициента линейного расширения по интерферограмме | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | Н. Осипов, Р.Н. Сергеев IV Международная конференция и молодёжная школа «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2018) 4 2 1 222 2 4 1 ∆− ∆ − += nm nm mn n hh rrrρ (5) Таким образом получена связь между радиус-вектором кривизны, характеризующим изгиб образца, и радиусами эквидистантных полос, а также высотной разностью между экви... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
paper_1.pdf | Основная статья | 509.5 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.