Отрывок: В данном случае в качестве материала металлического слоя и подложки использовалось золото (показатель преломления nAu=0.18836 + 3.4034i), а в качестве материала диэлектрического слоя — кварц (n=1.46). При указанных параметрах толщина верхней золотой пленки МДМ- структуры равняется 29.8 нм, а толщина слоя диэлектрика – 168 нм. Из рис. 1 (а) видно, что рассчитанная передаточная функция в окрестности нулевой пространственной частоты хоро...
Название : | Оптический дифференциатор на основе трехслойной металлодиэлектрической структуры |
Авторы/Редакторы : | Кашапов А. И. Досколович Л. Л. Быков Д. А. Безус Е. А. |
Дата публикации : | 2021 |
Библиографическое описание : | Оптический дифференциатор на основе трехслойной металлодиэлектрической структуры. - Текст : электронный / А. И. Кашапов, Л. Л. Досколович, Д. А. Быков, Е. А. Безус // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2021) : сб. тр. по материалам VII Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 сент.) : [в 3 т.]. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изображений РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника РАН. - 2021. - Т. 1. - С. 011932 |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\467007 |
Ключевые слова: | оптическое дифференцирование оптические дифференциаторы резонансные структуры металлодиэлектрическая система слоев МДМ-структуры коэффициент отражения |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
27paper011932.pdf | 493.51 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.