Отрывок: 3. Исследование параметрической идентификации на основе анализа конфигурации изоповерхностей Для исследования предложенного метода параметрической идентификации был проведён ряд вычислительных экспериментов на большой базе кристаллических решёток, смоделированных с помощью предложенной ранее информационной технологии [7]. Разработанный метод предполагает гибкую настройку благодаря переменным параметрам M и r, выбор которых, несомненно, повлияет на резуль...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кирш, Д.В. | - |
dc.date.accessioned | 2020-08-05 12:14:33 | - |
dc.date.available | 2020-08-05 12:14:33 | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20200805\85079 | ru |
dc.identifier.citation | Кирш Д.В. Параметрическая идентификация кристаллических решёток на основе анализа конфигурации изоповерхностей / Д.В. Кирш // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). Сборник трудов по материалам VI Международной конференции и молодежной школы (г. Самара, 26-29 мая): в 4 т. / Самар. нац.-исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем. обраб. изобр. РАН-фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН; [под ред. В. А. Фурсова]. – Самара: Изд-во Самар. ун-та, 2020. – Том 4. Науки о данных. – 2020. – С. 892-896. | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Parametricheskaya-identifikaciya-kristallicheskih-reshetok-na-osnove-analiza-konfiguracii-izopoverhnostei-85079 | - |
dc.description.abstract | В работе рассматривается подход к идентификации кристаллических решёток на основе анализа конфигурации изоповерхностей. Данный подход позволяет оценивать взаимное расположение узлов внутри элементарной ячейки, что, теоретически, должно обеспечивать благоприятные условия для создания методов идентификации, устойчивых к искажениям структуры. Основная проблема, заключающаяся в высокой вычислительной сложности алгоритма, решается в работе с помощью модификации метода, использующей свойство периодичности структуры кристаллической решётки. Проведённое исследование разработанного метода на большой базе эталонных решёток подтвердило его высокую устойчивость к искажениям структуры вплоть до максимального искажения, составляющего 10 % от размера элементарной ячейки. The paper deals with an approach to crystal lattice identification based on the isosurface configuration analysis. The approach allows us to evaluate the relative position of lattice nodes inside the unit cell. Theoretically, this should provide favourable conditions for creating identification methods that are resistant to structural distortions. The crucial problem with the high computational complexity of the algorithm is solved by modification of the method using the periodicity property of crystal lattice structures. A study of the developed method on a large base of reference lattices confirmed its high resistance to structural distortions up to a maximum distortion of 10 % of unit cell’s size. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.title | Параметрическая идентификация кристаллических решёток на основе анализа конфигурации изоповерхностей | ru |
dc.title.alternative | Parametric Identification of Crystal Lattices Based on Isosurface Configuration Analysis | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | 3. Исследование параметрической идентификации на основе анализа конфигурации изоповерхностей Для исследования предложенного метода параметрической идентификации был проведён ряд вычислительных экспериментов на большой базе кристаллических решёток, смоделированных с помощью предложенной ранее информационной технологии [7]. Разработанный метод предполагает гибкую настройку благодаря переменным параметрам M и r, выбор которых, несомненно, повлияет на резуль... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
ИТНТ-2020_том 4-892-896.pdf | 584.94 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.