Отрывок: Наличие трещин объясняется различием К'ГР кремния и алюминия при увеличении глубины залегания р—п перехода. ипр, 6 Рис. 1. Зависимость прямого падения напряжения диодов Д226Б от времени при работе их в режимах: |_г7обр=400 *■ 7выпр=900 ма- Т=20±5Х; 2- иобр=400 в' /выпр=30° •*|а' Т=150±2°С; 3- ио6р=4°0 »• 7выпр=300 ма- Т=20±5°С' У некоторых переходов на фронте рекристаллизации наблюда лись нерегулярные выступы, которые могут быть участками боль ших ме...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Афанасьев Г. Г. | ru |
dc.contributor.author | Пахомов В. В. | ru |
dc.contributor.author | Перфилов Г. В. | ru |
dc.coverage.spatial | внедрение эффективных технологий | ru |
dc.coverage.spatial | виды отказов | ru |
dc.coverage.spatial | диоды типа Д226Б | ru |
dc.coverage.spatial | методика исследований | ru |
dc.coverage.spatial | оценка надежности | ru |
dc.coverage.spatial | метод сплавления в вакууме | ru |
dc.coverage.spatial | сплавные кремниевые диоды | ru |
dc.coverage.spatial | результаты испытаний | ru |
dc.coverage.spatial | расчет численных показателей | ru |
dc.creator | Афанасьев Г. Г., Пахомов В. В., Перфилов Г. В. | ru |
dc.date.issued | 1974 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\536444 | ru |
dc.identifier.citation | Афанасьев, Г. Г. Оценка надежности сплавных кремниевых диодов по результатам испытаний в различных электрических и температурных режимах / Г. Г. Афанасьев, В. В. Пахомов, Г. В. Перфилов // Исследования по акустике, электрофизике и радиоэлектронике : межвуз. сб. / М-во высш. и сред.спец. образования РСФСР, Куйбышев.авиац. ин-т им. С. П. Королева ; редкол. : Г. В. Абрамов (отв. ред.) [и др.]. - Куйбышев : [КуАИ], 1973-Вып. 2. - 1974. - С. 115-121. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Исследования по акустике, электрофизике и радиоэлектронике : межвуз. сб. - Текст : электронный | ru |
dc.source | Исследования по акустике, электрофизике и радиоэлектронике. - Вып. 2 | ru |
dc.title | Оценка надежности сплавных кремниевых диодов по результатам испытаний в различных электрических и температурных режимах | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 121 | ru |
dc.citation.spage | 115 | ru |
dc.textpart | Наличие трещин объясняется различием К'ГР кремния и алюминия при увеличении глубины залегания р—п перехода. ипр, 6 Рис. 1. Зависимость прямого падения напряжения диодов Д226Б от времени при работе их в режимах: |_г7обр=400 *■ 7выпр=900 ма- Т=20±5Х; 2- иобр=400 в' /выпр=30° •*|а' Т=150±2°С; 3- ио6р=4°0 »• 7выпр=300 ма- Т=20±5°С' У некоторых переходов на фронте рекристаллизации наблюда лись нерегулярные выступы, которые могут быть участками боль ших ме... | - |
Располагается в коллекциях: | Исследования по акустике |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Стр.-115-121.pdf | 238.19 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.