Отрывок: На рис.З и рис.4 в качестве примера приведены точностные диаграммы соот ветственно нестабильного и стабильного процессов напыления тонкоплёночных резисторов. Напыление производилось через биметаллические маски. Очевидно, что совокупность ТГГО, полученных за один цикл напыления, может быть пред ставлена мгновенным распределением погрешностей сопротивления резисторов. Совокупность TTTR, полученных за несколько циклов напылен...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | ru |
dc.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. академика С. П. Королева | ru |
dc.coverage.spatial | лабораторные работы | ru |
dc.coverage.spatial | микросборки | ru |
dc.coverage.spatial | производственные погрешности | ru |
dc.coverage.spatial | тонкопленочные резисторы | ru |
dc.coverage.spatial | точность технологических процессов | ru |
dc.coverage.spatial | стабильность технологических процессов | ru |
dc.coverage.spatial | учебные издания | ru |
dc.date.issued | 2004 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\438872 | ru |
dc.identifier.citation | Анализ качества технологического процесса производства микросборок : [метод. указания к лаб. работе]. - Текст : электронный / Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; сост. М. Н. Пиганов. - Самара : СГАУ, 2004. - 1 файл (397 Кб) | ru |
dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat. | ru |
dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия). | ru |
dc.description.abstract | Рассмотрены производственные погрешности в процессе изготовления микросборок. Приведены методики оценки точности и стабильности технологических процессов. Даны схемы возникновения производственных погрешностей.Рекомендуются студентам специальности 200800. | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | СГАУ | ru |
dc.relation.isformatof | Анализ качества технологического процесса производства микросборок : [метод. указания к лаб. работе]. - Текст : непосредственный | ru |
dc.title | Анализ качества технологического процесса производства микросборок | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.33.31 | ru |
dc.subject.udc | 621.382.049.77(075) | ru |
dc.textpart | На рис.З и рис.4 в качестве примера приведены точностные диаграммы соот ветственно нестабильного и стабильного процессов напыления тонкоплёночных резисторов. Напыление производилось через биметаллические маски. Очевидно, что совокупность ТГГО, полученных за один цикл напыления, может быть пред ставлена мгновенным распределением погрешностей сопротивления резисторов. Совокупность TTTR, полученных за несколько циклов напылен... | - |
Располагается в коллекциях: | Методические издания |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Пиганов М.Н. Анализ качества 2004.pdf | 397.48 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.