Отрывок: абсолютное среднеквадратическое отклонение ширины ТПР; - абсолютное среднеквадратическое отклонение длины ТПР; аргумент интеграла вероятностей; КО - 1С, Ом/П - сопротивление квадрата резистивной пленки; РО - Ро, Вт/см2 - удельная мощность рассеивания резистивной пленки; АО - СТ» М0(1) - ст 2Кф = ст 2к - ст %□; КЗ - Ро опг> Ом/О - оптимальное значение Ио; К1 - До „ив, Ом/П; Р2 - Ил маке, Ом/О; Р - Кф, коэффициент формы; В 1 -Ь , мм - ширина ТПР (из мощности); В2 - Ь , мм - шир...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Меркулов А. И. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева | ru |
dc.coverage.spatial | методические издания | ru |
dc.coverage.spatial | резисторы | ru |
dc.coverage.spatial | тонкопленочные резисторы | ru |
dc.date.accessioned | 2022-03-24 09:43:23 | - |
dc.date.available | 2022-03-24 09:43:23 | - |
dc.date.issued | 2002 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\476259 | ru |
dc.identifier.citation | Исследование влияния электрических, эксплуатационных и технологических характеристик на конструктивные параметры тонкопленочных резисторов : метод. указания. - Текст : электронный / М-во образования Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; сост. А. И. Меркулов. - Самаpа, 2002. - 1 файл (1,19 Мб) | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Issledovanie-vliyaniya-elektricheskih-ekspluatacionnyh-i-tehnologicheskih-harakteristik-na-konstruktivnye-parametry-tonkoplenochnyh-rezistorov-96367 | - |
dc.description.abstract | В методических указаниях рассмотрены конструкции тонкопленочных резисторов, приведены блок-схема и программа их расчета на ЭВМ, методика работы с программой. Студентам предлагается рассчитать и сконструировать шесть типов тонкопленочных резисторов, определить зависимость их конструктивных форм от электрических, эксплуатационных и технологических характеристик, найти оптимальные размеры. Рекомендуются для студентов специальности 20.08.00. Подготовлены на кафедре микроэлектроники и технологии радиоэлектронной аппаратуры. | ru |
dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat. | ru |
dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия). | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.isformatof | Исследование влияния электрических, эксплуатационных и технологических характеристик на конструктивные параметры тонкопленочных резисторов : метод. ук | ru |
dc.title | Исследование влияния электрических, эксплуатационных и технологических характеристик на конструктивные параметры тонкопленочных резисторов | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.61 | ru |
dc.subject.udc | 621.316.8(075) | ru |
dc.textpart | абсолютное среднеквадратическое отклонение ширины ТПР; - абсолютное среднеквадратическое отклонение длины ТПР; аргумент интеграла вероятностей; КО - 1С, Ом/П - сопротивление квадрата резистивной пленки; РО - Ро, Вт/см2 - удельная мощность рассеивания резистивной пленки; АО - СТ» М0(1) - ст 2Кф = ст 2к - ст %□; КЗ - Ро опг> Ом/О - оптимальное значение Ио; К1 - До „ив, Ом/П; Р2 - Ил маке, Ом/О; Р - Кф, коэффициент формы; В 1 -Ь , мм - ширина ТПР (из мощности); В2 - Ь , мм - шир... | - |
Располагается в коллекциях: | Методические издания |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Меркулов А.И. Исследование влияния электрических 2002.pdf | 1.22 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.