Отрывок: Рис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Тюлевин С. В. | ru |
dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ) | ru |
dc.coverage.spatial | электронные средства (ЭС) | ru |
dc.coverage.spatial | качество электронных средств (ЭС) | ru |
dc.coverage.spatial | анализ брака ЭС | ru |
dc.coverage.spatial | показатели качества | ru |
dc.coverage.spatial | причинно-следственные диаграммы качества ЭС | ru |
dc.date.issued | 2014 | ru |
dc.identifier | RU/НТБ СГАУ/WALL/621.3/П 637-649597 | ru |
dc.identifier.citation | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания] / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ) ; [сост. С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов]. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2014. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat. | ru |
dc.description.abstract | Методические указания предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210201 «Проектирование и технология ра-диоэлектронных средств», при освоении дисциплины «Управление ка-чеством электронных средств (ЭС)». | ru |
dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ(электрон. версия). | ru |
dc.description.abstract | Гриф. | ru |
dc.format.extent | Электрон. текстовые дан. (1 файл : 511,0 Кбайт) | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | [Изд-во СГАУ] | ru |
dc.relation.isformatof | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Текст] : [метод. указания] | ru |
dc.relation.isformatof | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания] | ru |
dc.title | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.45 | ru |
dc.subject.udc | 621.3(075) | ru |
dc.textpart | Рис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех... | - |
Располагается в коллекциях: | Методические издания |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Тюлевин С.В. Построение.pdf | from 1C | 511.86 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.