Отрывок: Рис. 3. Причинно-следственная диаграмма для анализа дефектов СБИС: «Большие кости» причинных факторов: I – этап проектирования и изготовления фотошаблонов; II – этап переноса, совмещения и проявления рисунков фотошаблонов на подложки СБИС; III – этап 1-й и 2-й термообработок; IV – этап травления топологии и удаления фоторезиста маски. «Средние и малые кости» причинных факторов: 1 – ошибки в тех...
Название : | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств |
Авторы/Редакторы : | Тюлевин С. В. Пиганов М. Н. Министерство образования и науки Российской Федерации Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ) |
Дата публикации : | 2014 |
Издательство : | [Изд-во СГАУ] |
Библиографическое описание : | Построение причинно-следственных диаграмм качества электронных средств [Электронный ресурс] : [метод. указания] / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ) ; [сост. С. В. Тюлевин, М. Н. Пиганов]. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2014. - on-line |
Аннотация : | Используемые программы: Adobe Acrobat. Методические указания предназначены для студентов, обучающихся по специальности 210201 «Проектирование и технология ра-диоэлектронных средств», при освоении дисциплины «Управление ка-чеством электронных средств (ЭС)». Труды сотрудников СГАУ(электрон. версия). Гриф. |
Другие идентификаторы : | RU/НТБ СГАУ/WALL/621.3/П 637-649597 |
Ключевые слова: | электронные средства (ЭС) качество электронных средств (ЭС) анализ брака ЭС показатели качества причинно-следственные диаграммы качества ЭС |
Располагается в коллекциях: | Методические издания |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Тюлевин С.В. Построение.pdf | from 1C | 511.86 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.