Отрывок: В ходе работы было проведено эллипсометрическое исследование пленки кремнезема, полученной золь-гель методом. Измерение однослойной модели проходило в режиме накопления, результаты получены в режиме подгонки. Так же провели измерения для чистого предметного стекла. Полученные в результате измерения данные вносились в...
Название : | Эллипсометрическое исследование пленок наноструктурированной двуокиси кремния, полученных золь-гель методом |
Авторы/Редакторы : | Замалютдинов, А.И. Габдрахманова, Л.Р. |
Ключевые слова : | наноструктурированным вещества эллипсометрия пленка кремнезема золь-гель метод |
Дата публикации : | 2014 |
Издательство : | Издательство Самарского научного центра РАН |
Библиографическое описание : | Перспективные информационные технологии (ПИТ 2014): труды Международной научно-технической конференции / под ред. С. А. Прохорова. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН, 2014. – с. 42-44 |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/Ellipsometricheskoe-issledovanie-plenok-nanostrukturirovannoi-dvuokisi-kremniya-poluchennyh-zolgel-metodom-61874 |
ISBN : | 978-5-93424-704-2 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20170127\61874 |
Располагается в коллекциях: | Перспективные информационные технологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
pit_14_1_5_10.pdf | Основная статья | 358.44 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.