Отрывок: 2 Схема взаимодействия импульсов дефекта и диагностических циклов: 0kt , 0Цjt , ДkT , ЦT , Иkt , ИЦjt - параметры импульсных последовательностей, соответ- ствующих диагностическим циклам (индекс Ц) и дефектам (индекс Д), ,k j - номера периодов сигналов Для выявления и локализации диагностическое приложение запускается M раз. В течении каждого j – го цикла определяется факт выявления дефекта, которому соответствует единичное значение логической конъюн...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Гречишников, В.М. | - |
dc.contributor.author | Бутько, А.Д. | - |
dc.contributor.author | Извощиков, Н.С. | - |
dc.contributor.author | Лебедев, Д.А. | - |
dc.date.accessioned | 2023-02-20 12:33:09 | - |
dc.date.available | 2023-02-20 12:33:09 | - |
dc.date.issued | 2022 | - |
dc.identifier | Dspace\SGAU\20230215\102013 | ru |
dc.identifier.citation | Гречишников В.М. МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИАГНОСТИКИ ЛАТЕНТНЫХ ДЕФЕКТОВ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ МЕТОДОМ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ /В.М. Гречишников, А.Д. Бутько, Н.С. Извощиков, Д.А. Лебедев // Перспективные информационные технологии (ПИТ 2022) [Электронный ресурс] : труды Международной научно-технической конференции / под ред. С.А. Прохорова – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. – 2022. – С. 393-396 | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-93424-880-3 | - |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/MATEMATIChESKOE-MODELIROVANIE-DIAGNOSTIKI-LATENTNYH-DEFEKTOV-ELEKTRONNYH-MODULEI-METODOM-GRANIChNOGO-SKANIROVANIYa-102013 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | Издательство Самарского научного центра РАН | ru |
dc.title | МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ДИАГНОСТИКИ ЛАТЕНТНЫХ ДЕФЕКТОВ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ МЕТОДОМ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ | ru |
dc.type | Article | ru |
dc.textpart | 2 Схема взаимодействия импульсов дефекта и диагностических циклов: 0kt , 0Цjt , ДkT , ЦT , Иkt , ИЦjt - параметры импульсных последовательностей, соответ- ствующих диагностическим циклам (индекс Ц) и дефектам (индекс Д), ,k j - номера периодов сигналов Для выявления и локализации диагностическое приложение запускается M раз. В течении каждого j – го цикла определяется факт выявления дефекта, которому соответствует единичное значение логической конъюн... | - |
Располагается в коллекциях: | Перспективные информационные технологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-93424-880-3_2022_393-396.pdf | 971.8 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.