Отрывок: При длине волны λ>>aw, где аw – шаг сетки, эффективность экрани- рования Sh стен можно рассчитать по формуле [1, 6]: absm ab ww h cd n S * 0 )( - = , где w ww w a d 4 * sps = – удельная проводимость сетчатой структуры, n – коэффициент формы корпуса или здания, ws – удельная проводимость материала сетки, dw – толщина проволоки сетки, 0m – магнитная постоянная ( 7 0 104 -Ч= pm Гн/м). Изменение вел...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorПавлова, Э.И.-
dc.contributor.authorГизатуллин, З.М.-
dc.date.accessioned2019-07-25 10:42:16-
dc.date.available2019-07-25 10:42:16-
dc.date.issued2019-
dc.identifierDspace\SGAU\20190715\77901ru
dc.identifier.citationПавлова Э.И. МЕТОДИКА АНАЛИЗА ПОМЕХ В ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВАХ ПРИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ РАЗРЯДА МОЛНИИ / Э.И. Павлова, З.М. Гизатуллин // Перспективные информационные технологии (ПИТ 2019) [Электронный ресурс] : труды Международной научно-технической конференции / [редкол.: Прохоров С. А. (гл. ред.) и др.]. – Самара: Издательство Самарского научного центра РАН. – 2019. – С. 621-623ru
dc.identifier.isbn978-5-93424-839-1-
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Perspektivnye-informacionnye-tehnologii/METODIKA-ANALIZA-POMEH-V-ELEKTRONNYH-SREDSTVAH-PRI-ELEKTROMAGNITNOM-VOZDEISTVII-RAZRYaDA-MOLNII-77901-
dc.language.isorusru
dc.publisherИздательство Самарского научного центра РАНru
dc.titleМЕТОДИКА АНАЛИЗА ПОМЕХ В ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВАХ ПРИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОМ ВОЗДЕЙСТВИИ РАЗРЯДА МОЛНИИru
dc.typeArticleru
dc.textpartПри длине волны λ>>aw, где аw – шаг сетки, эффективность экрани- рования Sh стен можно рассчитать по формуле [1, 6]: absm ab ww h cd n S * 0 )( - = , где w ww w a d 4 * sps = – удельная проводимость сетчатой структуры, n – коэффициент формы корпуса или здания, ws – удельная проводимость материала сетки, dw – толщина проволоки сетки, 0m – магнитная постоянная ( 7 0 104 -Ч= pm Гн/м). Изменение вел...-
Располагается в коллекциях: Перспективные информационные технологии

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
28 МЕТОДИКА АНАЛИЗА ПОМЕХ В ЭЛЕКТРОННЫХ СРЕДСТВАХ ПРИ.pdf229.21 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.