Отрывок: Достигнутые и перспектив­ ные уровни микроминиатюризации оперируют с физическими объемами менее 10 ® мкм ,^ что обуславливает проблематичность использования в конструктор- ско-технологической практике макроскопических подходов анализа, основан­ ных на методах физики сплошных сред. Состояние отмеченных выше момен­ тов стимулирует развитие нетрадиционных методов анализа технолог...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorВолков А. В.ru
dc.contributor.authorЕремина И. Н.ru
dc.contributor.authorСаноян А. Г.ru
dc.contributor.authorФедеральное агентство по образованиюru
dc.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королеваru
dc.coverage.spatialалгоритмическая энтропияru
dc.coverage.spatialмикроустройстваru
dc.coverage.spatialинформационная теория измерительных процессовru
dc.coverage.spatialинформационная энтропияru
dc.coverage.spatialинформационный потенциалru
dc.coverage.spatialинформационный запас качестваru
dc.coverage.spatialдинамическое равновесие элементарных физико-химических процессовru
dc.coverage.spatialнаноразмерные устройстваru
dc.coverage.spatialактивационная модель протекания элементарных физико-химических процессовru
dc.coverage.spatialопределение концентрации активных частицru
dc.coverage.spatialсамоорганизация сложных атомных структурru
dc.coverage.spatialпоказатели качества реальных технологийru
dc.coverage.spatialпоказатели качества технологийru
dc.coverage.spatialтеория информацииru
dc.coverage.spatialформальное представление технических объектовru
dc.coverage.spatialпринципы пространственно-временной организацииru
dc.coverage.spatialпринципы эволюции микроэлектронных устройствru
dc.coverage.spatialстатистический метод анализа макроскопических системru
dc.coverage.spatialэнтропийные показатели качестваru
dc.coverage.spatialэнтропийные показатели качества микротехнологийru
dc.coverage.spatialэнтропийные показатели качества нанотехнологийru
dc.creatorВолков А. В., Еремина И. Н., Саноян А. Г.ru
dc.date.issued2007ru
dc.identifierRU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:5/В 676-221958ru
dc.identifier.citationВолков, А. В. Энтропийные модели микро- и наноструктур [Электронный ресурс] : [учеб. пособие] / А. В. Волков, И. Н. Еремина, А. Г. Саноян] ; Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2007. - on-line. - ISBN = 978-5-7883-0605-6ru
dc.identifier.isbn978-5-7883-0605-6ru
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobatru
dc.description.abstractТруды сотрудников СГАУ (электрон. версия)ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 899 Кбайт)ru
dc.language.isorusru
dc.publisher[Изд-во СГАУ]ru
dc.relation.isformatofЭнтропийные модели микро- и наноструктур [Текст] : [учеб. пособие]ru
dc.titleЭнтропийные модели микро- и наноструктурru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti29.29ru
dc.subject.udcСГАУ:5(075)ru
dc.subject.udc539.1(075)ru
dc.textpartДостигнутые и перспектив­ ные уровни микроминиатюризации оперируют с физическими объемами менее 10 ® мкм ,^ что обуславливает проблематичность использования в конструктор- ско-технологической практике макроскопических подходов анализа, основан­ ных на методах физики сплошных сред. Состояние отмеченных выше момен­ тов стимулирует развитие нетрадиционных методов анализа технолог...-
Располагается в коллекциях: Учебные издания

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
Волков А.В. Энтропийные модели.pdffrom 1C3.6 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.