Отрывок: С этой точки зрения вьппеописан- ный метод, безусловно, предпочтителен для отработки техпроцесса, но для экспресс-контроля, для упрощения и увеличения производительности вполне применим упрощенный способ определения загрязнения поверхности подло жек по площади растекания калиброванной капли жидкости на исследуемой поверхности, т.е. критерием степени чист...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Волков А. В. | ru |
dc.contributor.author | Саноян А. Г. | ru |
dc.contributor.author | Бородин С. А. | ru |
dc.contributor.author | Агафонов А. Н. | ru |
dc.contributor.author | Федеральное агентство по образованию | ru |
dc.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева | ru |
dc.coverage.spatial | геомерические характеристики микрорельефа ДОЭ | ru |
dc.coverage.spatial | микрорельеф ДОЭ | ru |
dc.coverage.spatial | дискретизация | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционная оптика | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционные оптические элементы | ru |
dc.coverage.spatial | квантование | ru |
dc.coverage.spatial | операции | ru |
dc.coverage.spatial | методы контроля | ru |
dc.coverage.spatial | контроль | ru |
dc.coverage.spatial | метод растровой электронной микроскопии | ru |
dc.coverage.spatial | структура конструкционных материалов | ru |
dc.coverage.spatial | подготовка поверхности подложки | ru |
dc.coverage.spatial | покрытия | ru |
dc.coverage.spatial | технология формирования фазового микрорельефа | ru |
dc.coverage.spatial | технологический контроль | ru |
dc.coverage.spatial | сканирующий зондовый микроскоп | ru |
dc.coverage.spatial | создание микрорельефа ДОЭ | ru |
dc.coverage.spatial | растровый электронный микроскоп | ru |
dc.coverage.spatial | степень чистоты диэлектрических оснований ДОЭ | ru |
dc.creator | Волков А. В., Саноян А. Г., Бородин С. А., Агафонов А. Н. | ru |
dc.date.issued | 2007 | ru |
dc.identifier | RU/НТБ СГАУ/WALL/СГАУ:5/О-224-881934 | ru |
dc.identifier.citation | Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов [Электронный ресурс] : [учеб. пособие / А. В. Волков и др.] ; Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева. - Самара : [Изд-во СГАУ], 2007. - on-line. - ISBN = 978-5-7883-0627-8 | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-7883-0627-8 | ru |
dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat | ru |
dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия) | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 1,52 Мбайт) | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.publisher | [Изд-во СГАУ] | ru |
dc.relation.isformatof | Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов [Текст] : [учеб. пособие | ru |
dc.title | Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 29.31 | ru |
dc.subject.udc | СГАУ:5(075) | ru |
dc.subject.udc | 535.8(075) | ru |
dc.textpart | С этой точки зрения вьппеописан- ный метод, безусловно, предпочтителен для отработки техпроцесса, но для экспресс-контроля, для упрощения и увеличения производительности вполне применим упрощенный способ определения загрязнения поверхности подло жек по площади растекания калиброванной капли жидкости на исследуемой поверхности, т.е. критерием степени чист... | - |
Располагается в коллекциях: | Учебные издания |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
Волков А.В. Оборудование и методы.pdf | from 1C | 16.71 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.