Отрывок: Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе с-среза одноосного кристалла воспользуемся интегральным оператором распространения, полученным ранее в [23]. В качестве примера был выбран кристалл конгруэнтного ниобата лития с-среза с показателем преломления 𝑛0 = 2,28634, 𝑛𝑒 = 2,28634, длина волны лазерного пучка ...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Архипов В. А. | ru |
dc.contributor.author | Паранин В. Д. | ru |
dc.contributor.author | Бабаев О. Г. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | измерение толщины | ru |
dc.coverage.spatial | погрешности | ru |
dc.coverage.spatial | пучки Бесселя | ru |
dc.coverage.spatial | двулучепреломление | ru |
dc.coverage.spatial | ниобат лития | ru |
dc.coverage.spatial | обработка изображений | ru |
dc.creator | Архипов В. А. | ru |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20171215112935 | ru |
dc.identifier.citation | Архипов, В. А. Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов с-среза : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / В. А. Архипов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. Г. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электр. - Самара, 2017. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Объектом исследования являются методы и средства измеренияоптических и размерных параметров кристаллов ниобата лития.Цель работы – создание бесконтактного метода измерения оптическихи размерных характеристик подложек ниобата лития С-среза.В процессе работы рассмотрены методы получения пучков Бесселя,проведен обзор существующих методов измерения размерных и оптическиххарактеристик кристаллов, предложен основной принцип бесконтактногоисследования ниобата лития, проведена экспериментальная апробацияразработанных методов.В результате выпускной квалификационной работы разработан методбесконтактного измерения размерных и оптических характеристик подложекниобата лития с-среза толщиной ~0,2 – 1 мм с погрешностью 0,1%. Результатыработы представляют интерес для предприятий оптической промышленности,занимающихся выращиванием и обработкой кристаллов для оптоэлектроники,акустоэлектроники, лазерной техники. | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,2 Мб) | ru |
dc.title | Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов с-среза | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 29.31 | ru |
dc.subject.udc | 681.7 | ru |
dc.textpart | Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе с-среза одноосного кристалла воспользуемся интегральным оператором распространения, полученным ранее в [23]. В качестве примера был выбран кристалл конгруэнтного ниобата лития с-среза с показателем преломления 𝑛0 = 2,28634, 𝑛𝑒 = 2,28634, длина волны лазерного пучка ... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Архипов_Владимир_Александрович_Экспериментальное_исследование_оптоэлектронного_метода.pdf | 2.23 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.