Отрывок: В зависимости от условий рассчитывается соответствующая плотность распределений. Учитывая, что число траекторий может достигать 1010 , времени на розыгрыш потребует неприемлемо бол...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Шабека А. С. | ru |
dc.contributor.author | Куприянов А. В. | ru |
dc.contributor.author | Карпеев С. В. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | сечение рассеяния | ru |
dc.coverage.spatial | метод Монте-Карло | ru |
dc.coverage.spatial | детекторы | ru |
dc.coverage.spatial | микрорельеф | ru |
dc.coverage.spatial | модели изображений | ru |
dc.coverage.spatial | пучок электронов | ru |
dc.coverage.spatial | композиционный контраст | ru |
dc.coverage.spatial | топографический контраст | ru |
dc.creator | Шабека А. С. | ru |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20170906151511 | ru |
dc.identifier.citation | Шабека, А. С. Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе : вып. квалификац. работа по спец. "Прикладная математика и информатика" / А. С. Шабека ; рук. работы А. В. Куприянов; рец. С. В. Карпеев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элек. - Самара, 2017. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Объектом исследования является метод моделирования топографического и композиционного контрастов, получаемых в растровом электронном микроскопе, основанный на методе Монте-Карло. Цель работы – разработка и реализация алгоритма моделирования контраста. Раз | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 1,8 Мб) | ru |
dc.title | Моделирование композиционного и топографического контрастов изображений микрорельефа дифракционной решетки в растровом электронном микроскопе | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 50.01 | ru |
dc.subject.udc | 004.9 | ru |
dc.textpart | В зависимости от условий рассчитывается соответствующая плотность распределений. Учитывая, что число траекторий может достигать 1010 , времени на розыгрыш потребует неприемлемо бол... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Шабека_Антон_Сергеевич_Моделирование_композиционного_топографического.pdf | 1.88 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.