Отрывок: Формула для определения N выглядит следующим образом: 𝑁 = 𝑛 − 𝑖𝑘, (2) где n – показатель преломления; i – мнимая единица; k – показатель поглощения. Интенсивность светового потока I, пропорциональна квадрату амплитудного значения вектора напряженности электрического поля, и связана с начальным значением интенсивности, согласно закону Бугера – Ламбе...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Бабкин Е. Н. | ru |
dc.contributor.author | Паранин В. Д. | ru |
dc.contributor.author | Саноян А. Г. | ru |
dc.contributor.author | Минобрнауки России | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | магнетронное напыление | ru |
dc.coverage.spatial | электронная микроскопия | ru |
dc.coverage.spatial | тонкие пленки алюминия | ru |
dc.coverage.spatial | спектральные характеристики | ru |
dc.creator | Бабкин Е. Н. | ru |
dc.date.issued | 2019 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20190808103655 | ru |
dc.identifier.citation | Бабкин, Е. Н. Экспериментальное исследование характеристик тонких пленок алюминия : вып. квалификац. работа по направлению подгот. "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / Е. Н. Бабкин ; рук. работы В. Д. Паранин ; нормоконтролер А. Г. Саноян ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак. - Самаpа, 2019. - on-line | ru |
dc.description.abstract | В работе рассматриваются технологии напыления тонких пленок оптических покрытий, спектральные характеристики и методы их получения и анализа. Цель работы – исследование характеристик тонких пленок алюминия, полученных методом магнетронного напыления. Разработана технология магнетронного напыления тонких пленок алюминия на вакуумной установке ЭТНА-100-МТ. С помощью интерферометра Microscope WLI определены толщины изготовленных пленок алюминия, равные 11; 19 нм. С использованием электронного микроскопа Carl Zeiss SUPRA 25-30-85 исследована сплошность и целостность пленок. Измерены спектральные характеристики пропускания и отражения на спектрофотометре Shimadzu UV-2450 в диапазоне 400 – 750 нм. Измерено сопротивление образцов размером 76х25 мм, равное 349 Ом, 356 Ом для толщины 11 нм; 117 Ом, 114,9 Ом для толщины 19 нм. | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,4 Мб) | ru |
dc.title | Экспериментальное исследование характеристик тонких пленок алюминия | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 34.65 | ru |
dc.subject.udc | 621.78 | ru |
dc.textpart | Формула для определения N выглядит следующим образом: 𝑁 = 𝑛 − 𝑖𝑘, (2) где n – показатель преломления; i – мнимая единица; k – показатель поглощения. Интенсивность светового потока I, пропорциональна квадрату амплитудного значения вектора напряженности электрического поля, и связана с начальным значением интенсивности, согласно закону Бугера – Ламбе... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Бабкин_Евгений_Николаевич_Экспериментальное_исследование_характеристик_тонких.pdf | 2.44 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.