Отрывок: Такие контакты не искажают линии тока в образце и за счет большой площади имеют малое сопротивление, что способствует уменьшению уровня шума контактов. Наличие нескольких боковых отростков позволяет одновременно с ЭДС Холла измерять удельное сопротивление образца. ЭДС Холла и, соответственно, коэффициент Холла можно измерить четырьмя различными способами, используя постоянный или переменный ток, а также постоянное или переменное магнитное поле. Испо...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Голубева Д. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Щербак А. В. | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.coverage.spatial | рентгенофазовый анализ | ru |
dc.coverage.spatial | жидкофазная эпитаксия | ru |
dc.coverage.spatial | метод магнетронного распыления | ru |
dc.coverage.spatial | методы измерения удельного сопротивления | ru |
dc.coverage.spatial | монокристаллические подложки | ru |
dc.coverage.spatial | оптические параметры полупроводников | ru |
dc.coverage.spatial | оптические свойства | ru |
dc.coverage.spatial | карбид кремния | ru |
dc.coverage.spatial | эндотаксия | ru |
dc.coverage.spatial | электрофизические свойства | ru |
dc.coverage.spatial | спектральный анализ | ru |
dc.coverage.spatial | способы получения карбида кремния | ru |
dc.coverage.spatial | газофазная эпитаксия | ru |
dc.coverage.spatial | поликристаллические подложки | ru |
dc.coverage.spatial | полупроводниковый карбид кремния | ru |
dc.coverage.spatial | сублимационная эпитаксия | ru |
dc.creator | Голубева Д. Ю. | ru |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163302 | ru |
dc.identifier.citation | Голубева, Д. Ю. Электрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных методом магнетронного распыления : на правах рукоп.: магистер. дис. / Голубева Диана Юрьевна ; рук. работы А. В. Щербак ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара, 2017. - on-line | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,1 Мб) | ru |
dc.title | Электрофизические и оптические свойства тонких пленок полупроводникового карбида кремния на поликристаллических и монокристаллических подложках, полученных мето | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 55.22 | ru |
dc.subject.udc | 621.382 | ru |
dc.subject.udc | 621.793.7 | ru |
dc.textpart | Такие контакты не искажают линии тока в образце и за счет большой площади имеют малое сопротивление, что способствует уменьшению уровня шума контактов. Наличие нескольких боковых отростков позволяет одновременно с ЭДС Холла измерять удельное сопротивление образца. ЭДС Холла и, соответственно, коэффициент Холла можно измерить четырьмя различными способами, используя постоянный или переменный ток, а также постоянное или переменное магнитное поле. Испо... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Голубева_Диана_Юрьевна_ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ_ОПТИЧЕСКИЕ_СВОЙСТВА.pdf | 2.14 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.