Отрывок: Данный микроскоп включает в себя возможности как светового микроскопа, так и ПЭМ, и имеет больше функциональных особенностей для различных исследований. Метод СЭМ в основном предназначен для анализа более крупных объектов, с минимальным увеличением около x10, а также полезным максимумом увеличения от 104 до 106 и ускоряющим напряжением 30-50 кВ [5, 34, 38]. По сравнению с просвечивающей сканирующая электронная микроскоп...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorОбухова Т. В.ru
dc.contributor.authorМельников А. А.ru
dc.contributor.authorМельников А. А.ru
dc.contributor.authorМинистерство науки и высшего образования Российской федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorЕстественнонаучный институтru
dc.coverage.spatialизломыru
dc.coverage.spatialметаллографияru
dc.coverage.spatialнадежность конструкцийru
dc.coverage.spatialразрушение деталейru
dc.coverage.spatialфрактографияru
dc.coverage.spatialэлектронная микроскопияru
dc.creatorОбухова Т. В.ru
dc.date.accessioned2023-07-12 16:46:57-
dc.date.available2023-07-12 16:46:57-
dc.date.issued2023ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20230707164927ru
dc.identifier.citationОбухова, Т. В. Исследование фрактографии изломов и установление причин разрушения стальных конструкций : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 28.03.02 "Наноинженерия" (уровень бакалавриата) направленность (профиль) "Нанотехнологии и наноматериалы" / Т. В. Обухова ; рук. ВКР А. А. Мельников ; нормоконтролер А. А. Мельников ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. и. - Самара, 2023. - 1 файл (4,0 Мб). - Текст : электронныйru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Issledovanie-fraktografii-izlomov-i-ustanovlenie-prichin-razrusheniya-stalnyh-konstrukcii-104458-
dc.description.abstractОбъектом исследования являлся излом, образованный на лотке для кабелей. Целью данной работы является фрактографический анализ и установление причин разрушения детали с применением оптического и электронного микроскопов, а также приведение рекомендаций для повышения надежности конструкции.ru
dc.titleИсследование фрактографии изломов и установление причин разрушения стальных конструкцийru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti30.19ru
dc.subject.udc539.4ru
dc.textpartДанный микроскоп включает в себя возможности как светового микроскопа, так и ПЭМ, и имеет больше функциональных особенностей для различных исследований. Метод СЭМ в основном предназначен для анализа более крупных объектов, с минимальным увеличением около x10, а также полезным максимумом увеличения от 104 до 106 и ускоряющим напряжением 30-50 кВ [5, 34, 38]. По сравнению с просвечивающей сканирующая электронная микроскоп...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Обухова_Татьяна_Викторовна_Исследование_фрактографии_изломов.pdf4.1 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.