Отрывок: Измерение толщины одноосного кристалла, производится с помощью фиксации поперечного распределения интенсивности выходного пучка видеокамерой, после чего полученное изображение сравнивается с таблицей эталлонов на основе математической модели распространения пучков Бесселя в одноосном кристалле [12]. 19 2.2 Математические основы метода измерения Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе Z-среза одноосного к...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Литвинов А. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Паранин В. Д. | ru |
dc.contributor.author | Бабаев О. А. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | ниобат лития | ru |
dc.coverage.spatial | пучок Бесселя | ru |
dc.coverage.spatial | дифракционный аксикон | ru |
dc.coverage.spatial | метод измерения толщины | ru |
dc.coverage.spatial | одноосные кристаллы | ru |
dc.coverage.spatial | оптическая ось | ru |
dc.creator | Литвинов А. Ю. | ru |
dc.date.issued | 2018 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180717131834 | ru |
dc.identifier.citation | Литвинов, А. Ю. Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. Ю. Литвинов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. А. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2018. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Объектом исследования является дифракционно-поляризационныйметод измерения толщины одноосных кристаллов ориентации <001>.Цель работы: развитие методических основ измерения толщиныодноосных кристаллов ориентации <001> на основе преобразования пучкаБесс | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 1,5 Мб) | ru |
dc.title | Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 29.31 | ru |
dc.subject.udc | 535.42 | ru |
dc.textpart | Измерение толщины одноосного кристалла, производится с помощью фиксации поперечного распределения интенсивности выходного пучка видеокамерой, после чего полученное изображение сравнивается с таблицей эталлонов на основе математической модели распространения пучков Бесселя в одноосном кристалле [12]. 19 2.2 Математические основы метода измерения Для расчёта поперечного распределения интенсивности пучка Бесселя на выходе Z-среза одноосного к... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Литвинов_Алексей_Юрьевич_Метод_измерения_толщины_одноосных.pdf | 1.49 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.