Отрывок: Для верификации проекта тестовое покрытие может обеспечить конструктору грубую количественную оценку того, насколько хорошо реализован проект, а так же список необнаруженных неисправностей может предоставить ценную информацию о тех подсхемах, которые не тестировались так же детально, как другие подсхемы. Например, соглашение об именовании неисправностей в большинстве программ моделирования неисправ...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Коновалов М. А. | ru |
dc.contributor.author | Головашкин Д. Л. | ru |
dc.contributor.author | Саноян А. Г. | ru |
dc.contributor.author | Козлов И. Н. | ru |
dc.contributor.author | Минобрнауки России | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | постоянное запоминающее устройство (ПЗУ) | ru |
dc.coverage.spatial | модели неисправностей | ru |
dc.coverage.spatial | методы верификации | ru |
dc.coverage.spatial | ВССТ | ru |
dc.creator | Коновалов М. А. | ru |
dc.date.issued | 2019 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20190808092515 | ru |
dc.identifier.citation | Коновалов, М. А. Оптимизация метода верификации параметризованной цифровой ячейки постоянного запоминающего устройства : вып. квалификац. работа по направлению подгот. "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / М. А. Коновалов ; рук. работы Д. Л. Головашкин ; нормоконтролер А. Г. Саноян ; консультант И. Н. Козлов ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатик. - Самаpа, 2019. - on-line | ru |
dc.description.abstract | В работе рассматриваются методы верификации постоянных запоминающих устройств, свойственные им модели неисправностей, а так же структуры встроенной Цель работы – оптимизация метода верификации постоянного запоминающего устройства по критерию время тестир | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,2 Мб) | ru |
dc.title | Оптимизация метода верификации параметризованной цифровой ячейки постоянного запоминающего устройства | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 50.01 | ru |
dc.subject.udc | 004.33 | ru |
dc.textpart | Для верификации проекта тестовое покрытие может обеспечить конструктору грубую количественную оценку того, насколько хорошо реализован проект, а так же список необнаруженных неисправностей может предоставить ценную информацию о тех подсхемах, которые не тестировались так же детально, как другие подсхемы. Например, соглашение об именовании неисправностей в большинстве программ моделирования неисправ... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Коновалов_Максим_Алексеевич_Оптимизация_метода_верификации_параметризованной.pdf | 2.22 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.