Отрывок: Рентгенограмма для образца В представлена на рис. 25. В работе [23] анализируют рентгенограммы порошка ПВДФ и тонкой ПВДФ-пленки, высушенной при температуре 30 °С, используя излучение FeK. Можно видеть, что на рис. 26 пики α-фазы расположены на углах 2θ = 18.123o, 19.675o, 26.93o в порошке ПВДФ, в то время как в тонкой пленке, вы- сушенной при 30oC, присутствуют три фазы: γ-фазы (в качестве основной) с углом дифракции 2θ = 20,3...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Логинова В. М. | ru |
dc.contributor.author | Журавлева И. И. | ru |
dc.contributor.author | Тарасова Е. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Министерство науки и высшего образования Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Естественнонаучный институт | ru |
dc.coverage.spatial | ПВДФ-пленки | ru |
dc.coverage.spatial | технология лазерного спекания | ru |
dc.coverage.spatial | ИК спектрометрия | ru |
dc.coverage.spatial | фторопласт 2М | ru |
dc.coverage.spatial | лазерные установки | ru |
dc.coverage.spatial | рентгенофазовый анализ | ru |
dc.coverage.spatial | рентгенофазовый анализ полимеров | ru |
dc.coverage.spatial | структура ПВДФ | ru |
dc.creator | Логинова В. М. | ru |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20200922151512 | ru |
dc.identifier.citation | Логинова, В. М. Применение методов ИК Спектрометрии и рентгенофазового анализа для изучения структуры фторопласта 2М : вып. квалификац. работа по спец. 04.05.01 "Фундаментальная и прикладная химия" (уровень специалитета) / В. М. Логинова ; рук. работы И. И. Журавлева ; науч. конс. Е. Ю. Тарасова ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Естественнонауч. и. - Самара, 2020. - on-line | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,3 Мб) | ru |
dc.title | Применение методов ИК Спектрометрии и рентгенофазового анализа для изучения структуры фторопласта 2М | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 31.01 | ru |
dc.subject.udc | 546 | ru |
dc.textpart | Рентгенограмма для образца В представлена на рис. 25. В работе [23] анализируют рентгенограммы порошка ПВДФ и тонкой ПВДФ-пленки, высушенной при температуре 30 °С, используя излучение FeK. Можно видеть, что на рис. 26 пики α-фазы расположены на углах 2θ = 18.123o, 19.675o, 26.93o в порошке ПВДФ, в то время как в тонкой пленке, вы- сушенной при 30oC, присутствуют три фазы: γ-фазы (в качестве основной) с углом дифракции 2θ = 20,3... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Логинова_Виктория_Михайловна_Применение_методов_Спектрометрии.pdf | 2.35 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.