Отрывок: Все микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кирсанов Н. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Латухина Н. В. | ru |
dc.contributor.author | старший н. с. | ru |
dc.contributor.author | П.В. Казакевича к. ф. | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.coverage.spatial | модель диффузии эрбия | ru |
dc.coverage.spatial | светоизлучающие приборы | ru |
dc.coverage.spatial | стандартные кремниевые технологии интегральных схем | ru |
dc.coverage.spatial | электрофизические свойства ПК | ru |
dc.coverage.spatial | спектры фотолюминесценции | ru |
dc.coverage.spatial | пористый кремний | ru |
dc.coverage.spatial | полупроводниковая оптоэлектроника | ru |
dc.coverage.spatial | легированный эрбий | ru |
dc.creator | Кирсанов Н. Ю. | ru |
dc.date.issued | 2017 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163035 | ru |
dc.identifier.citation | Кирсанов, Н. Ю. Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ : вып. квалификац. работа [магистра по направлению "Физика"] / Н. Ю. Кирсанов ; науч. рук. работы Н. В. Латухина ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Физ. фак-т, Каф. радиофизики, полупроводниковой микро- и наноэлектроники. - Самара, 2017. - on-line | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,0 Мб) | ru |
dc.title | Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.29.31 | ru |
dc.subject.udc | 621.383 | ru |
dc.subject.udc | 539.1 | ru |
dc.textpart | Все микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Кирсанов_Николай_Юрьевич_ДИФФУЗИОННЫЕ_СТРУКТУРЫ_ОСНОВЕ.pdf | 2 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.