Отрывок: Все микроскопы серии EVO в своей конструкции используют передовые технологии TTL и BeamSleeve, что позволяет получать изображения высокого качества в режиме переменного давления. Диапазон увеличений микроскопа от 10 до 1 000 000 крат, что примерно в 500 раз превышает предел увеличения лучших оптических микроскопов при высокой глубине резкости. Микроскоп снабжен детектором X-Max80 микроэлементного анализа фирмы Oxford Instruments (Великобритания). Микроскоп позволяет...
Название : | Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ |
Авторы/Редакторы : | Кирсанов Н. Ю. Латухина Н. В. старший н. с. П.В. Казакевича к. ф. Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) |
Дата публикации : | 2017 |
Библиографическое описание : | Кирсанов, Н. Ю. Диффузионные структуры на основе пористого кремния легированного РЗЭ : вып. квалификац. работа [магистра по направлению "Физика"] / Н. Ю. Кирсанов ; науч. рук. работы Н. В. Латухина ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Физ. фак-т, Каф. радиофизики, полупроводниковой микро- и наноэлектроники. - Самара, 2017. - on-line |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20190419163035 |
Ключевые слова: | модель диффузии эрбия светоизлучающие приборы стандартные кремниевые технологии интегральных схем электрофизические свойства ПК спектры фотолюминесценции пористый кремний полупроводниковая оптоэлектроника легированный эрбий |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Кирсанов_Николай_Юрьевич_ДИФФУЗИОННЫЕ_СТРУКТУРЫ_ОСНОВЕ.pdf | 2 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.