Отрывок: Для простоты объяснения мартовских тестов Ван Де Гур разработал примечание, подмножество которой показано в Таблице 2.1. Это обозначение однозначно определяет процедуру тестирования, и легко увидеть количество операций чтения и записи, которые определяют порядок процедуры тестирования. Таблица 2.1 Примечание для маршевого теста R Операция чтения из памяти r0 Чтение «0» из памяти r1 Чтение «1» из памяти W Операция записи в память w0 Запись «0» в па...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Бобров А. А. | ru |
dc.contributor.author | Козлова И. Н. | ru |
dc.contributor.author | Шишкина Д. А. | ru |
dc.contributor.author | Министерство науки и высшего образования Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | встроенная система самотестирования | ru |
dc.coverage.spatial | оперативные запоминающие устройства (ОЗУ) | ru |
dc.coverage.spatial | параметризованные ячейки статической памяти | ru |
dc.coverage.spatial | статическое оперативное запоминающее устройство | ru |
dc.creator | Бобров А. А. | ru |
dc.date.issued | 2021 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20210914144217 | ru |
dc.identifier.citation | Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Бобров ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Шишкина ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, ма. - Самара, 2021. - on-line | ru |
dc.description.abstract | В работе рассматриваются методы верификации оперативных запоминающих устройств, а именно статический ОЗУ, свойственные им модели неисправностей, а также структуры встроенной системы самотестирования. Цель работы – оптимизация метода верификации статического оперативного запоминающего устройства по критерию время тестирования.Оптимизирован метод верификации в соответствии с целью работы. Синтезирована структура ВССТ. Были получены отсчёты по быстродействию, занимаемой площади и мощности. | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 2,2 Мб) | ru |
dc.title | Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 50.01 | ru |
dc.subject.udc | 004.9 | ru |
dc.textpart | Для простоты объяснения мартовских тестов Ван Де Гур разработал примечание, подмножество которой показано в Таблице 2.1. Это обозначение однозначно определяет процедуру тестирования, и легко увидеть количество операций чтения и записи, которые определяют порядок процедуры тестирования. Таблица 2.1 Примечание для маршевого теста R Операция чтения из памяти r0 Чтение «0» из памяти r1 Чтение «1» из памяти W Операция записи в память w0 Запись «0» в па... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Бобров_Александр_Андреевич_Оптимизация_блока_тестирования_параметризованной.pdf | 2.26 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.