Отрывок: Для простоты объяснения мартовских тестов Ван Де Гур разработал примечание, подмножество которой показано в Таблице 2.1. Это обозначение однозначно определяет процедуру тестирования, и легко увидеть количество операций чтения и записи, которые определяют порядок процедуры тестирования. Таблица 2.1 Примечание для маршевого теста R Операция чтения из памяти r0 Чтение «0» из памяти r1 Чтение «1» из памяти W Операция записи в память w0 Запись «0» в па...
Название : | Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти |
Авторы/Редакторы : | Бобров А. А. Козлова И. Н. Шишкина Д. А. Министерство науки и высшего образования Российской Федерации Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) Институт информатики математики и электроники |
Дата публикации : | 2021 |
Библиографическое описание : | Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования параметризованной ячейки статической памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Бобров ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Шишкина ; М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, ма. - Самара, 2021. - on-line |
Аннотация : | В работе рассматриваются методы верификации оперативных запоминающих устройств, а именно статический ОЗУ, свойственные им модели неисправностей, а также структуры встроенной системы самотестирования. Цель работы – оптимизация метода верификации статического оперативного запоминающего устройства по критерию время тестирования.Оптимизирован метод верификации в соответствии с целью работы. Синтезирована структура ВССТ. Были получены отсчёты по быстродействию, занимаемой площади и мощности. |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20210914144217 |
Ключевые слова: | встроенная система самотестирования оперативные запоминающие устройства (ОЗУ) параметризованные ячейки статической памяти статическое оперативное запоминающее устройство |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Бобров_Александр_Андреевич_Оптимизация_блока_тестирования_параметризованной.pdf | 2.26 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.